GA-25 Lab — 顆粒潔淨度掃描儀
聚合物顆粒自動光學檢測，識別黑點、雜質與異色缺陷——精度達 20 μm，統計完整、報告可客製。桌上型機型，無人值守，2–10 kg/h。
- 檢測解析度 ≤ 20 μm
- 2048 × 1536 彩色相機
- 完整缺陷統計與報告
設備
從實驗室到量產的光學分選設備
兩大旗艦平台：GA-25 Lab 掃描儀可檢出小至 20 μm 的缺陷；GS-1000 Pro 分選機以 ≥95% 的分選準確率、高達 1,000 kg/h 的處理量自動剔除缺陷顆粒。規格完整透明——包括設備由誰製造。
GS-1000 Pro — 顆粒潔淨度分選機
在線光學分選，適用於透明、半透明及不透明本色聚合物顆粒——25 μm 精度檢出缺陷並自動剔除。處理量高達 1,000 kg/h，無人值守，7×24 小時運行。
- 3 × 8,192 px 線掃描相機
- 分選準確率 ≥ 95%
- 帶出比優於 1:20
更多配置歡迎洽詢
除 GA-25 Lab 與 GS-1000 Pro 外，中創產品線覆蓋顆粒檢測與分選的全系列需求——較低處理量的分選機（約 200 kg/h）、不帶剔除功能的在線品質監測儀，以及完整的顆粒外觀分析儀（尺寸、形狀、蛇皮紋、拖尾、纖維）。我們也提供面向實驗室與量產環境的薄膜缺陷檢測系統。
請告知您的物料與目標處理量——我們為您推薦合適的配置。
聯絡我們您的顆粒，我們的設備，用數據說話。
寄來 5 kg 物料——PE、PP 或任何聚合物顆粒。5 個工作日內您將收到雜質檢測報告，或觀看您的顆粒在 GS-1000 Pro 上實機分選的影片。無需購機。