設備 · GF 系列薄膜檢測
GF-25 Lab 桌上型多材質檢測系統
桌上型光學檢測，適用於薄膜、片材與粉體樣品——品管實驗室來料檢驗與批次放行的主力設備。無人值守、客觀且可重複，支援單件或累積測試模式。
主要規格
| 參考標準 | GB/T 37197, GB/T 11115, GB/T 6595, ASTM D7310 |
|---|---|
| 掃描寬度 | ≥ 200 mm (customizable) |
| 掃描長度 | ≥ 400 mm (customizable) |
| 檢測解析度 | ≤ 25 μm (customizable) |
| 相機 | CMOS line-scan camera |
| 像元頻率 | ≥ 360 MHz |
| 最高線掃描頻率 | 45,000 lines/s |
| 訊噪比 | Better than 60 dB |
| 線光源 | White LED line light, IP54, ≥ 50,000 h life, ≥ 250 mm |
| 運作環境 | 10–45 °C, 5–90 % RH (non-condensing) |
| 工作站 | 23.8″ FHD display, Intel Core i7, 16 GB RAM, 2 TB SSD, Windows 10 or later |
| 製造商參考型號 | MFD25-Offline— engineered and built by ZhongChuang (FOD Instruments), Beijing |
檢測對象
薄膜、片材與粉體樣品：凝膠、魚眼、黑點、孔洞、雜質與表面不均——一台桌上型平台涵蓋多種材質形態，取代多台單一用途儀器。
工作原理
檢測平台以恆定速度承載樣品通過檢測單元，檢測單元由高解析度線掃描相機與高亮度 LED 線光源組成。缺陷自動識別、分類與測量——無需人工量測，沒有人為誤差。可單件測試用於放行，也可多樣品累積測試用於統計分析。
軟體亮點
- 雙測試模式：單件或累積
- 缺陷分布圖，顯示每個缺陷的位置
- 多級閾值；自學習分類
- 統計基準設定，支援國標／企業標準
- 缺陷放大檢視器，支援熱力圖與 3D 分析
- 內建資料庫；多級權限；報告可客製
服務與保固 — 由伽岩提供
- 出貨前出廠驗收測試，使用您的顆粒實測並錄影存檔
- 安裝與操作訓練（現場或遠端）；首次現場調試含差旅費用
- 12 個月保固，由伽岩統一管理——一個信箱、一家負責（自交貨起最長 18 個月；耗損件除外）
- 軟體終身免費升級
- 一年免費客製功能開發（軟體層面，硬體不變）
- 終身技術支援與備品供應；24 小時內回應
一台桌上型平台，三種材質形態。
寄送薄膜、片材或粉體樣品。我們完成檢測，回傳檢測報告。首次寄樣檢測免費。