設備 · GF 系列薄膜檢測
GF-100 Online 高靈敏度薄膜缺陷檢測系統
高靈敏度 TDI 線掃描薄膜檢測，適用於薄膜實驗室與產線——凝膠、魚眼、黑點、絮狀物、褶皺與孔洞檢出精度達 0.05 mm，到貨約兩小時即可投入運行。
主要規格
| 參考標準 | GB/T 37197, GB/T 11115, GB/T 6595, ASTM D7310 |
|---|---|
| 檢測寬度 | 80 / 160 / 200 mm (customizable) |
| 檢測解析度 | 10 / 20 / 25 μm (customizable) |
| 相機 | TDI line-scan camera |
| 相機線解析度 | 8,192 px (customizable) |
| 感測器尺寸 | 57.3 mm / 7 μm |
| 像元頻率 | ≥ 360 MHz |
| 最高線掃描頻率 | 45,000 lines/s |
| 訊噪比 | Better than 60 dB |
| 膜速 | 0–15 m/min (customizable) |
| 鏡頭介面 | M72 × 0.75 |
| 線光源 | White LED line light, IP54, ≥ 50,000 h life, 300 mm |
| 運作環境 | 10–45 °C, 5–90 % RH (non-condensing) |
| 工作站 | 23.8″ FHD display, Intel Core i7, 16 GB RAM, 1 TB SSD, Windows 10 or later |
| 製造商參考型號 | ESF100— engineered and built by ZhongChuang (FOD Instruments), Beijing |
檢測能力
凝膠 · 魚眼 · 黑點 · 絮狀物 · 褶皺 · 孔洞——微米級精度：最小可檢缺陷 0.05 mm，批次間穩定性與重複性俱佳。
工作原理
先進的 LED 線光源搭配 TDI 線掃描相機，以極高的清晰度與靈敏度擷取運動中的薄膜表面。系統為快速部署而設計：安裝調試約 2 小時，隨附指引手冊與短影片教學，無需專業培訓。並提供線上或現場的專業支援。
軟體亮點
- 微米級精度：最小缺陷 0.05 mm
- 高穩定性與重複性，人為誤差低
- 缺陷分類、記錄、儲存與匯出
- 缺陷分布圖：定位薄膜上的每一個缺陷
- 多級閾值；自學習分類
- 多語言介面；操作簡單
- 趨勢圖、直方圖、製程能力分析
服務與保固 — 由伽岩提供
- 出貨前出廠驗收測試，使用您的顆粒實測並錄影存檔
- 安裝與操作訓練（現場或遠端）；首次現場調試含差旅費用
- 12 個月保固，由伽岩統一管理——一個信箱、一家負責（自交貨起最長 18 個月；耗損件除外）
- 軟體終身免費升級
- 一年免費客製功能開發（軟體層面，硬體不變）
- 終身技術支援與備品供應；24 小時內回應
高靈敏度，低門檻。
告訴我們您的薄膜與在意哪些缺陷。我們推薦合適的配置——並先用您的樣品實測。首次寄樣檢測免費。