設備 · GA 系列分析儀
GA-25 Lab 顆粒潔淨度掃描儀
聚合物顆粒自動光學檢測，識別黑點、雜質與異色缺陷——精度達 20 μm，統計完整、報告可客製。無人值守批次檢測，2–10 kg/h。
主要規格
| 參考標準 | GB/T 37197, GB/T 11115, SH/T 1541 |
|---|---|
| 檢測解析度 | ≤ 20 μm (customizable) |
| 相機 | 1 × high-resolution color camera, 2048 × 1536 px |
| 像元尺寸 | 3.45 μm × 3.45 μm |
| 幀率 | 30 Hz (capture & recognition) |
| 光源 | White LED, IP54, ≥ 50,000 h life, 100 W |
| 處理量 | 2–10 kg/h (PE, PP; depends on pellet size) |
| 運作環境 | 10–45 °C, 5–90 % RH (non-condensing) |
| 工作站 | 23.8″ FHD display, Intel Core i7, 16 GB RAM, 2 TB SSD, Windows 10 or later |
| 佔地面積 | Benchtop instrument (with work table) |
| 製造商參考型號 | ES25C — engineered and built by ZhongChuang (FOD Instruments), Beijing |
檢測能力
黑點 · 黑點粒 · 雜質粒 · 異色粒——逐個缺陷測量尺寸、面積、形狀與顏色，並分類統計，輸出可直接指導生產的品質數據。
工作原理
3 L 料斗將顆粒送入檢測單元，彩色相機對運動中的每一顆顆粒成像。軟體將每幅影像與您的閾值比對，識別雜質與異色，無需人工值守即可即時顯示缺陷照片，計算缺陷尺寸、面積、形狀與顏色，並產生含趨勢圖、直方圖與缺陷尺寸分布曲線的可客製品質報告。
軟體亮點
- 無人值守批次檢測——裝料後即可離開
- 即時缺陷顯示：類型、尺寸、面積、時間戳
- 缺陷放大檢視器，支援熱力圖、2D 與 3D 缺陷分析
- 缺陷自學習系統，自動推薦閾值確保高精度
- 光強自動控制，成像穩定
- 內建資料庫便於查詢與備份；多級使用者權限
- 報告可客製（圖表增刪、加入您的 Logo）
服務與保固 — 由伽岩提供
- 出貨前出廠驗收測試，使用您的顆粒實測並錄影存檔
- 安裝與操作訓練（現場或遠端）；首次現場調試含差旅費用
- 12 個月保固，由伽岩統一管理——一個信箱、一家負責（自交貨起最長 18 個月；耗損件除外）
- 軟體終身免費升級
- 一年免費客製功能開發（軟體層面，硬體不變）
- 終身技術支援與備品供應；24 小時內回應
能不能檢出您的缺陷？
寄送 5 kg 樣品（最好含已知缺陷顆粒）。我們在 GA-25 Lab 上實測，並回傳影片與檢測報告。首次寄樣檢測免費。